透過直接擴充套件FM,AFM引入Attention機制來學習不同組合特徵的權重,即保證了模型的可解釋性又提高了模型效能(但個人覺得這裡的缺點是使用了物理意義並不明顯的哈達瑪積)
可測樣品型別及專案:可做纖維/粉末/溶液/薄膜/奈米片/生物蛋白:粗糙度、表面形貌、厚度、相圖、彈性模量、力曲線、PFM(壓電力顯微鏡)、KPFM(表面電勢)、C-AFM(導電力顯微鏡)、PeakForce TUNA(導電力顯微鏡)、EFM
SEM掃描電鏡可以觀察物體的表面形貌,也可用於做成分的定性和半定量分析TEM透射電鏡樣品需要做成薄片,可用於觀察內部顯微結構,也可用於選區電子衍射等,也可用於成分分析,而且TEM的倍數要比SEM大得多,TEM很多用於觀察奈米級別的試樣STM
AFM彌補了1982年發明的掃描隧道顯微鏡(STM)只能用於導體和半導體的不足,不但實現了對更多材料和體現的微觀觀測,還藉助力測量實現了表面物理、化學性質的研究
沒有,AM,AFM最開始的定位就是新材料,20年前就是如此,是大多數做材料科研的人只看得懂做材料的文章,看不懂物理化學研究,看不懂計算化學,看不懂正統電化學研究,不喜歡看又長解釋得又細還沒什麼特別花哨圖片的老牌期刊的文章(比如journal