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少子壽命檢測在SiC領域的應用
SiC晶體碳化矽晶體微波檢測光電導率(MDP)和光誘導電流瞬態光譜(MD-PICTS)兩種無接觸和無破壞的方法是表徵材料質量和缺陷的理想方法
2022-11-15
標簽:
Sic
md
PICTS
瞬態
碳化矽
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