膜厚儀能夠測塗層厚度嗎？膜厚儀的原理

測量厚度的儀器怎麼看

金屬鍍層的厚度是衡量鍍層質量的重要指標之一，將會直接影響材料的使用效能，為了準確的評定金屬鍍層的厚度，就可以使用膜厚儀來進行檢測。本文就給大家帶來常用的膜厚儀的適用範圍，感興趣的使用者不妨來看看吧！

一、膜厚儀可以測鍍層厚度嗎？

現在已經有很多種採用儀器進行厚度測量的方法。比如採用探頭或測試頭等對鍍層進行直接測量的測厚儀，其原理有磁性法、渦流法、β射線反向散射法、熒光X射線法等。

常用的行動式膜厚儀主要採用的就是磁性法以及渦流法。

應用磁性法的膜厚儀可以快速、準確的無損檢測各種塗覆在磁性金屬基底上的非磁性塗層厚度。如在鋼鐵、鎳材表面的鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層、油漆層、噴粉層等，均可用Fe基探頭進行測量。

而應用渦流法的膜厚儀可以快速、準確的無損測定各種塗覆在非磁性金屬基底上的各種不導電的塗層厚度，如在如鋁、銅、黃銅、不鏽鋼等材料表面的油漆層、噴粉層、塗瓷層等，用NFe基探頭檢測。

如果使用者想要測量鍍層厚度，首先就要考慮基材是磁性還是非磁性，然後選定不同的測試方法來進行檢測。

二、膜厚儀檢測鍍層厚度的原理：

磁性測厚法是利用被測試樣與標準磁體之間的吸引力的變化來轉換成鍍層的厚度。這種方法只能適用於對磁效能敏感的基體上的非磁性鍍層，如鋼鐵基體上的銅、鋅、錫等鍍層。鋼件上的鎳鍍層就不能很好地測量出結果。

磁性測厚法的優點是對鋼鐵基體上的非磁性鍍層提供了一種快速的測量方法，其準確度可達85%-90%。測量樣件的粗糙度對測量結果有影響。如果被測件的基體很薄時，比如樣片厚度低於0。25mm時，會有較大測量誤差，這時可以在樣片後另加一個與基體材料相同的厚一些的無鍍層材料來減少誤差。

磁性法的缺點是受磁效能要求的限制，所以適應於該方法的基體材料和鍍層有限。

所謂渦流測厚是透過探針使基體為導電材料表面一定深度內發生瞬間震盪電流回路。渦流電路的強度受鍍層的厚度和基體材料的導電效能的影響。當鍍層減薄時，會有更高的渦流電流透過基體，而當鍍層增厚時，透過基體的電流強度會減弱，據此可以計算出鍍層厚度。

渦流法可以用於金屬材料基體上的金屬或非金屬鍍層的測厚，也可以用於非金屬材料上的金屬鍍層的測厚，並且是非破壞性測厚法，因而也是應用較廣的一種測厚法。特別是在塗料層的測厚應用更多，對鍍層較薄時的誤差會較大。