法國STIL光譜共焦感測器優勢型號介紹

STIL光譜共焦位移感測器是法國STIL公司的品牌。光譜共焦位移感測器是基於光譜共焦原理製成的一款高精度位移感測器，最小解析度可達到2nm。取樣率達100Hz-30KHz。常用於測透明物體的厚度，如測薄膜、玻璃、透明膠、透明液體。且可測多層厚度用於表面粗糙度分析、表面輪廓分析、劃痕測量、孔內徑測量應用非常廣泛，且精度高，不受表面材料的影響。

STIL的光學感測器在三維非接觸式測量中有著最前端的技術。我們的感測器基於穿新的光學原理，幾乎能夠測量任何型別的材料，具有特殊的度。STIL感測器可應用在幾乎所有的工業領域。計量或研究實驗室內，將它作為高精密儀器，或者用作生產線的質量控制工具。工業環境使用時，由於STIL的簡單的介面，能夠與測量和檢測裝置整合。

1。粗糙度測量：STIL感測器可測量最小几個奈米的粗糙度。獲取粗糙度檔案速度比普通的探針式快很多，而且不會對錶面造成劃痕的風險。

2。輪廓&微觀形貌：STIL的3D掃描的介面，能夠滿足所有複雜物件的2D和3D測量。精度可達亞微米級。

3。厚度測量：非常先進的光譜共焦成像原理，透過使用一個單一的感測器就能測量透明材料的厚度，而且具有極高的精度。可以從樣品的一面直接測量。

4。水平面控制：由於其非接觸技術，我們的感測器可以檢測和測量液體的水平面。

5。振動：由於非常高的測量頻率和奈米解析度，我麼的感測器能夠測量振動物件。他們的非接觸式設計避免了在測試時的干擾，並能測量和分析難以訪問的區域。

6。生產線檢測： STIL SA的光學感測器能夠用應用於生產線系統控制，是由於其非常高的測量速率和先進的介面與製造能力。

司逖測量技術（上海）有限公司【第二個字讀tì】’，是法國STIL品牌在中國的銷售公司。

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STIL_3D尺寸精密測量方案提供者，全新測量原理的光譜共焦位移感測器_司逖測量技術（上海）有限公司

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