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一種適用於多種器件雜散電感提取的方法?

作者:由 老耿 發表于 歷史時間:2021-03-14

01。 前言

大家好,前段時間給大家分享過一篇透過IGBT雙脈衝測試提取換流回路雜散電感的文章,詳細可參考:

老耿:為什麼在IGBT的開通暫態提取雜感更準確?

文中提到過,透過開通暫態提取的雜散電感要比關斷更準確,主要是因為IGBT開通暫態di/dt的線性度要優於關斷di/dt。但是在有些應用中,IGBT開通暫態的di/dt線性度也不太好,因此提取的雜散電感也不太準確。正好前幾天有個師弟再次問到這個問題,想到了讀博期間曾經研究過的一個方法,透過對雜散電感上的電壓積分也可以計算雜散電感,這個方法的好處是不依賴於IGBT開關暫態電流的線性度,使用起來也比較簡單,而且可以用來

測量銅排、電容以及IGBT內部的寄生電感

今天就來和大家探討一下這個方法,希望能起到拋磚引玉的作用。

02. 測量方法原理

我們知道無論是IGBT開透過程中的電壓缺口,還是關斷暫態的電壓尖峰,本質上都是di/dt在雜散電感上產生的電壓最終疊加在IGBT兩端造成的。

一種適用於多種器件雜散電感提取的方法?

圖1。 IGBT開關暫態波形

以IGBT關斷為例,假設圖2所示的雜散電感,在t1時刻之前,從A點至B點有個穩定的電流透過,如果由於外部電路原因(IGBT關斷),導致這個電流迅速減小,那就會在電感兩端產生一個左負右正的電壓尖峰。

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圖2。 IGBT關斷暫態電感波形示意圖

在電流減小過程中,電感上產生的電壓和電流關係滿足公式(1):

一種適用於多種器件雜散電感提取的方法?

對公式(1)在t1-t2時間內進行積分可得:

一種適用於多種器件雜散電感提取的方法?

根據公式(2)就可以求出雜散電感:

一種適用於多種器件雜散電感提取的方法?

由公式(3)可知,

要想求出雜散電感,關鍵在於t1時刻和t2時刻的電流值以及在此之間電感上的電壓積分值,

t1和t2時刻分別對應0。9倍和0。1倍負載關斷電流。

需要說明的是透過電壓積分可以有效避免取樣誤差,因此該方法精度也會更高一些。

瞭解了基本原理之後,讓我們看看具體的應用。

03. 某一段銅排雜散電感測量

如果想關注某一段銅排的雜散電感,可以將電壓探頭直接接在待測銅排的兩端,穩態時銅排電壓為0V,當電流發生突變時就會產生電壓。圖3b和3c對應IGBT關斷暫態和開通暫態測量波形,利用示波器的積分功能就可以計算出雜散電感。在相同測試條件下,利用關斷暫態和開通暫態計算的雜散電感只相差0。8nH。

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圖3。 銅排雜散電感測量方法及波形

04. IGBT模組內部雜散電感測量

IGBT模組內部雜散電感測量方法如圖4所示,需要把待測IGBT串聯至半橋迴路中,同時給待測器件門極15V電壓,讓其處於常開狀態。給S1打雙脈衝,就可以得到類似於圖3b和3c波形。

需要說明的是

關斷暫態提取要比開通更準一些

,因為IGBT開通暫態會存在

電導調製現象

,導致因此開通瞬間待測器件Vce電壓會比較高,會引入測量誤差。關於電導調製的理解,可以參考我的另一篇文章:

老耿:如何理解PiN二極體的正向恢復特性?

一種適用於多種器件雜散電感提取的方法?

圖4。 IGBT模組內部雜散電感測量

05. 電容內部寄生電感測量

直流母線電容內部也存在一定的雜散電感,這個時候可以直接將差分探頭接在電容的兩個引腳上,如圖5所示。需要說明的是,測量電壓包含了母線電壓,因此直接對電壓積分會產生一個非常大的值,這個時候可以透過示波器數學運算功能將測量電壓減去母線電壓,再進行積分,或者將積分的結果減去圖5b中的陰影面積。

當然實際應用時直流母線會並聯很多電容,這個時候需要想辦法測到待測電容的真實電流。

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圖5。 電容內部雜散電感測量

06. 銅排總雜散電感測量

作為一名硬體工程師,通常情況下我們會更關注系統的疊層母排設計是否合理,雜散電感是否足夠小,這個時候我們就需要測量換流回路銅排總的雜散電感。換流回路中所有銅排雜散電感測量方法如圖6所示,電壓差分探頭接在下管的發射極和二極體陰極(上管IGBT的集電極)。

這種測量方法的測量結果與圖5b波形一致,只是因為銅排的雜散電感的存在變的更大了。

測量後的結果減去母線電容內部的雜散電感就是銅排的雜散電感了,當然也可以忽略電容內部電感。有些小夥伴可能會考慮上下管之間連線銅排的雜感,其實在這裡可以不用考慮太多,因為很多IGBT模組內部都是雙管半橋結構。即使是獨立的IGBT模組,兩者一般佈局也很近,連線銅排可最佳化空間也很小,重點還是要放在正負銅排上。

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圖6。 所有銅排雜散電感測量

如果單獨對正、負銅排雜散電感進行測量,然後再相加也可以得出結果。這樣誤差可能會大一些,因為每一次測量都會引入一部分誤差。當換流回路中銅排的數量較多(例如三電平),單獨測量會比較麻煩,還是直接測量總的更方便。

07. 技術討論

在測量某一段銅排雜散電感時,如果電感比較小,那感應出的電壓也會很小,這個時候採用普通的高壓差分探頭誤差可能比較大。採用普通的無源探頭測得比較準,但是老耿在測量過程中發現,探頭的擺放位置對測量結果影響比較大,只有將兩個測量點採用引線方式垂直引出,測量結果才和模擬結果比較一致,如圖7所示。

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圖7。 區域性雜散電感測量示意圖

當時的理解是銅排上的電流產生的空間磁場會耦合到測量回路中,因為測量回路本身就是一個高阻抗閉合迴路,是很容易耦合近電壓來的。如果採用精度比較高的低壓差分探頭可能就不會出現這個問題了。

在這裡希望能和大家探討一下這個問題:

如何在IGBT開關暫態精準的測量銅排任意兩點之間的電壓?大家要是有自己獨特的看法,可以私信我,一塊交流下。

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標簽: 電感  雜散  IGBT  銅排  測量