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共創顯示次時代,思謀打造 Mini LED 智慧檢測

作者:由 思謀科技SmartMore 發表于 書法時間:2022-05-25

思謀集團旗下安思智造首創高階Mini LED光學缺陷檢測一體機 - 深度融合思謀的智慧工業平臺SMore ViMo 2.0與智慧化打光方案,一體化實現了針對高階屏顯的雙環節智慧化檢測。

該裝置在Mini LED的封裝環節中可同時進行外觀檢測與點亮檢測,能夠準確檢測出偏移、錫膏、亮度、缺焊等10多種缺陷特徵,

漏檢率僅為0.05%,並可在0.005毫米的精度要求下,達到1000 ㎜²/秒的檢測速度

。此外,該裝置採用標準的SMEMA介面,可與自動返修裝置無縫對接,實現雙環節檢測的資料打通,有效追溯造成缺陷的源頭工序,透過智檢大資料實現製造工藝全流程的反向提升。

Mini LED/Micro LED是OLED後新出現的顯示技術,因為其具備高畫質晰度、高對比度、高亮度、低功耗、色彩豐富的特點,被認為是目前最適合作為元宇宙“入口”的顯示技術,需求量激增。然而,

Mini LED面板晶片尺寸最小隻有0.075mm,晶片體積小、佈局密,質檢難度極高,檢測精度和效率一直難以提升,成為Mini LED大規模量產和應用的瓶頸

思謀安思融合SMore ViMo智慧工業平臺深度學習和視覺演算法等先進技術,突破傳統檢測難題,助力中國智造,推出了Mini LED光學缺陷檢測一體機。裝置不僅能夠對 Mini LED面板進行智慧化檢測,還“能上能下”:

可以相容傳統的LED面板的質檢,更可滿足晶片尺寸在75微米以下的Micro LED面板的嚴苛檢測需求,全面提升了高階屏顯的質檢能力,助推屏顯行業的快速發展

共創顯示次時代,思謀打造 Mini LED 智慧檢測

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標簽: LED  mini  檢測  面板  屏顯